高溫老化箱可對(duì)電子元器件施加高溫、高濕和一定的驅(qū)動(dòng)電流進(jìn)行加速老化并通過試驗(yàn)結(jié)果評(píng)估電子器件是否存在表面玷污、引線焊接不良、溝道漏電等一系列缺陷，并以此為依據(jù)對(duì)電子元器件的工作條件進(jìn)行調(diào)整和可靠性計(jì)算。

高溫老化箱可執(zhí)行的加速老化試驗(yàn)項(xiàng)目

1.高溫加速老化是加速老化試驗(yàn)中最基本的環(huán)境應(yīng)力式高溫，在此過程中應(yīng)定期對(duì)選定參數(shù)進(jìn)行檢測，直至退化超過壽命終止即可。

2.恒溫老化試驗(yàn)運(yùn)行方式與高溫老化運(yùn)行是相似的，在此過程中需要明確樣品數(shù)量以及允許失效的數(shù)量范圍。

3.溫度循環(huán)的加速老化試驗(yàn)一般來說不是為了引起特定性能參數(shù)的退化而是提供封裝在組價(jià)里的光路長期機(jī)械穩(wěn)定性的附加說明。

電子元器件老化測試注意事項(xiàng)

1.老化設(shè)備應(yīng)具備良好的防自激振蕩設(shè)施。

2.試驗(yàn)過程如果需要進(jìn)行施加電壓應(yīng)從0開始緩慢增加，去電壓時(shí)也應(yīng)緩慢減小，若違規(guī)操作瞬間脈沖會(huì)對(duì)器件造成損壞。

3.老化試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)在規(guī)定時(shí)間范圍內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)測量，若超時(shí)有些超差的參數(shù)會(huì)恢復(fù)到原來的數(shù)值。

4.為了能夠使得晶體管在最高溫下老化，應(yīng)該準(zhǔn)確對(duì)晶體管熱阻進(jìn)行測量。

以上就是電子元器件在進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)時(shí)應(yīng)該注意的事項(xiàng)，希望能夠?qū)Υ蠹矣兴鶐椭?/span>

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