高低溫試驗(yàn)箱由于本身屬于精密儀器的一種能夠模擬復(fù)雜的環(huán)境條件，而這也決定著著設(shè)備構(gòu)造必然是復(fù)雜的，因此當(dāng)設(shè)備突然無法正常運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)且故障點(diǎn)未排查清楚，不可以隨意觸動電路中的元器件尤其是可調(diào)式器件避免造成二次損壞。

當(dāng)故障出現(xiàn)后我們可以做一些簡單的故障排除，所以星拓根據(jù)多年環(huán)試設(shè)備經(jīng)驗(yàn)為此整理了六大故障排除法，請放心食用。

法則一：敲擊法

此法適用于設(shè)備運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)不穩(wěn)定出現(xiàn)時(shí)好時(shí)壞的現(xiàn)象，利用小橡皮榔頭或者其他敲打工件對設(shè)備可能產(chǎn)生故障的部位或者插件板，觀察設(shè)備是否出現(xiàn)停機(jī)或者程序出錯的現(xiàn)象。當(dāng)出現(xiàn)故障，可關(guān)閉電源然后用手壓壓牢故障部位，然后開機(jī)檢測設(shè)備可否正常運(yùn)轉(zhuǎn)。若出現(xiàn)敲打一下設(shè)備正常，再敲打時(shí)又不正常，需把所有接頭重新插牢繼續(xù)敲打檢測，若仍然存在故障請及時(shí)聯(lián)系廠家進(jìn)行故障排除并解決。

法則二：并聯(lián)法

若故障源自器件內(nèi)部開路或者是接觸不良可采用并聯(lián)法即騎肩法進(jìn)行排除，先準(zhǔn)備好一塊功能正常的IC芯片，然后將芯片安裝在需檢測的芯片上，也可以將功能正常的元器件比如電阻電容、二極管或者三極管等和需要進(jìn)行檢測的元器件并聯(lián)并保持良好的接觸。

法則三：替換法

替換法分為元件和功能替換兩種，元件替換法適用于兩臺型號相同的高低溫試驗(yàn)箱或者具備有足夠多的備件，然后將備件和產(chǎn)生故障的同一元器件進(jìn)行替換后觀察故障是否消除。而功能替換適用于沒有多余的原備件，根據(jù)其故障部件的電路原理，自行采購或者是自制電氣參數(shù)功能相同或者接近的部件進(jìn)行替換。

法則四：排除法

此法是操作人員應(yīng)該熟練掌握并執(zhí)行度高的方法，也就是將插件內(nèi)的一些插件板或者器件逐一進(jìn)行拔掉，當(dāng)拔出某一插件板或者器件后設(shè)備儀表恢復(fù)正常則為故障點(diǎn)。

法則五：對比法

此法對操作人員的知識和技能有一定的要求，需要備好兩臺型號相同的高低溫試驗(yàn)并且保證一臺是正常運(yùn)轉(zhuǎn)無故障的，萬用表、示波器等儀器，然后使兩臺設(shè)備執(zhí)行同一個試驗(yàn)并以此來檢測一些點(diǎn)的信號后比較所測的兩組信號是否存在異同，一般是電壓比較、波形比較、靜態(tài)阻抗比較、輸出結(jié)果比較、電流比較等。

法則六：升降溫法

當(dāng)設(shè)備的個別IC或者元器件性能差導(dǎo)致高溫特性參數(shù)達(dá)不到指標(biāo)要求就會導(dǎo)致故障，此時(shí)可采用升降溫法，降溫法是將棉纖沾無水酒精抹擦在可能出故障的部位使其降溫并觀察故障是否消除。升溫法可用電烙鐵放近有疑點(diǎn)的部位查看是否存在故障，注意溫度不可過高損壞正常器件。

以上就是自檢高低溫試驗(yàn)箱故障的六大黃金法則，若按上述方法故障均無法排除請及時(shí)聯(lián)系廠家進(jìn)行故障排除。

星拓作為國家高新技術(shù)企業(yè)，在環(huán)試設(shè)備行業(yè)技術(shù)沉淀20+年，國內(nèi)外2600+長期合作客戶，長期從事低溫試驗(yàn)箱，高溫試驗(yàn)箱，恒溫恒濕試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，快速溫變試驗(yàn)箱，低氣壓試驗(yàn)箱，振動試驗(yàn)臺，高低溫振動三綜合試驗(yàn)箱，鹽霧試驗(yàn)箱，沙塵試驗(yàn)箱，IP防水試驗(yàn)箱，機(jī)械沖擊試驗(yàn)臺，碰撞試驗(yàn)臺，跌落試驗(yàn)機(jī)，老化試驗(yàn)箱等可靠性測試設(shè)備的研發(fā)和生產(chǎn)。若有任何高低溫試驗(yàn)箱等的相關(guān)需求，可隨時(shí)聯(lián)系廣東星拓環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備廠家進(jìn)行咨詢，星拓工程團(tuán)隊(duì)為您提供安全、可靠和易于操作的測試設(shè)備技術(shù)方案，助力驗(yàn)證產(chǎn)品品質(zhì)提升。