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廣東星拓環(huán)境試驗設(shè)備科技有限公司
低氣壓環(huán)境箱電子元器件可靠性解析
發(fā)表時間：2024-12-28 網(wǎng)址：http://m.piaobie.cn/ 編輯：admin
在標(biāo)準(zhǔn)的操作條件下，低氣壓試驗箱能夠依據(jù)預(yù)設(shè)的時間與氣壓參數(shù)，精確且迅速地調(diào)整至所需的氣壓值。然而，隨著設(shè)備使用時間的延長或操作上的疏忽，試驗箱的氣壓調(diào)節(jié)性能可能會慢慢減弱，進(jìn)而導(dǎo)致氣壓調(diào)整速度變慢。針對這一狀況，我們開展了全面的技術(shù)研討，以下是詳盡的分析說明：
一、低氣壓環(huán)境概述
地球引力作用下形成的大氣層，其壓力隨海拔升高而降低。高度每增加，大氣壓力顯著下降，影響高海拔地區(qū)電子產(chǎn)品的性能。我國大片國土位于高海拔區(qū)域，因此低氣壓環(huán)境對電子元器件的影響不容忽視。
二、低氣壓對電子元器件的影響
散熱影響：散熱產(chǎn)品如電機、變壓器等，在低氣壓環(huán)境下溫升增加，與海拔高度大致成線性關(guān)系。對流散熱效果因空氣密度降低而減弱，影響產(chǎn)品性能。
性能影響：低氣壓環(huán)境下，以空氣為絕緣介質(zhì)的設(shè)備易產(chǎn)生局部放電，甚至空氣間隙擊穿，破壞設(shè)備正常工作。
三、可靠性控制措施
1. 合理選用元器件：根據(jù)電路特性合理選用元器件，從設(shè)計源頭提高可靠性，進(jìn)行可靠性試驗，優(yōu)選廠家，壓縮品種，提高質(zhì)量等級。
2. 監(jiān)制、試驗和驗收：嚴(yán)格元器件的生產(chǎn)、試驗和驗收過程，根據(jù)元器件類型制定不同的監(jiān)制、試驗和驗收標(biāo)準(zhǔn)。
3. 破壞性物理分析（DPA）：在元器件裝機前進(jìn)行DPA，防止有缺陷的元器件使用，確保元器件質(zhì)量。
4. 失效分析：對失效元器件進(jìn)行電、物理、化學(xué)檢測，確定失效模式、機理和原因，采取糾正措施，提高元器件質(zhì)量。
5. 質(zhì)量信息管理：管理元器件選用、采購、監(jiān)制、驗收、篩選、復(fù)驗及失效分析等環(huán)節(jié)的質(zhì)量信息，確保信息準(zhǔn)確可追溯。
綜上所述，低氣壓環(huán)境箱對電子元器件的性能產(chǎn)生顯著影響，必須通過合理的選用、監(jiān)制、試驗、驗收、DPA、失效分析及質(zhì)量信息管理等措施，提高電子元器件在低氣壓環(huán)境下的可靠性。
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